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SK-IR-5C型彩色液晶鐵損測(cè)試儀主要技術(shù)指標(biāo)

2024-08-23 16:17:30 來(lái)源：寧波經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)凱諾儀器有限公司

總研SK-IR-5C鐵損測(cè)試儀是SK-IR-3C的改進(jìn)型新產(chǎn)品，采用彩色液晶顯示模塊，同時(shí)磁通密度可任意調(diào)節(jié)，該儀器的主要主技術(shù)指標(biāo)說(shuō)明如下：
1）試樣厚度：0.10～0.99mm
2）試樣長(zhǎng)度：20mm以上
3）試樣寬度：*小2mm (5mm以上保證設(shè)計(jì)精度，形狀不規(guī)則(非長(zhǎng)方形)的復(fù)雜沖壓片，可任意設(shè)定相近的有效寬度)
4）磁通密度：1.0T～1.7T（可任意調(diào)節(jié)）
5）測(cè)試精度：≤±5% (JIS Epstein方圈法比較)；
6）測(cè)試頻率：50Hz；
7）使用電源： 220V。
8）環(huán)境條件：
①保證精度范圍 15 ～ 35 ℃
②使用溫度范圍 0 ～ 40 ℃
③允許濕度范圍 35 ～ 85% (無(wú)露水)
9）主機(jī)尺寸：W(240)×H(160)×D(380) mm
10）重量：主機(jī)約5Kg

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劉小姐

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